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嵌入式系统:测试和测量挑战

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  • 2013-07-10
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嵌入式系统:测试和测量挑战入门手册

目录

嵌入式系统概述⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯3-6

行业推动因素⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯3

市场趋势和推动因素⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯4

工程设计需求和响应⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯4

嵌入式设计的各种单元⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯5

嵌入式设计的关键测试挑战⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯6

微处理器和微型控制器⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯7-11

调试嵌入式处理器⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯7

高级语言源代码支持⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯8

符号支持⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯9

性能分析支持⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯9

最坏情况执行时间支持⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯10

现场可编程门阵列(FPGAs)⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯12-17

FPGA设计流程概述⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯13

设计阶段⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯13

调试和检验阶段⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯13

FPGA调试方法⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯13

嵌入式逻辑分析仪核心⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯13

外部示波器⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯14

外部混合信号示波器⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯14

外部逻辑分析仪⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯14

选择适当的FPGA调试方法⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯15

小结⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯17

存储器⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯18-25

SDRAM⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯20

DDR SDRAM⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯20

DDR2 SDRAM⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯21

DDR3 SDRAM⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯22

内存系统设计⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯23

设计仿真⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯23

设计检验⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯23

检验策略⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯23

SDRAM检验⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯24

低速串行总线⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯26-30

总线⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯31-36

高速串行标准⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯32

量挑战⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯33

小结⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯36

电源⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯37-43

开关式电源基础知识⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯37

检定SMPS(开关式电源)性能⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯38

电气特点⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯38

磁性特点⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯39

输入/输出(I/O)分析⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯39

电源设计⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯40

测量基础知识⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯40

探测考虑因素⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯42

自动进行功率测量⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯42

强大的测量功能⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯43

数字RF技术⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯44-50

频谱使用方式发生变化⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯44

工程设计挑战⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯45

测试数字RF技术⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯46

测量工具⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯46

数字RF应用⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯48

信号源⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯50

未来整体展望⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯51

关键字 : 嵌入式系统 测试 测量 
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